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ESD・ラッチアップ試験

半導体デバイスの静電気放電に対する耐性評価の各種試験を行っております。

ESD・ラッチアップ

使用試験・分析装置

ESD・ラッチアップテスター(M7000EL-256)

ESD・ラッチアップテスター(M7000EL-256)

CDMテスター(HED-C5000)

CDMテスター(HED-C5000)

事例1(ESD・ラッチアップテスター)

・適合規格
MIL、EIA/JEDEC、JEITA、AEC、ESDA

・仕様
最大テストピン数 256Pin
最大印加電圧 ±4,000V
DC供給電圧 ±30V 1A
※ 256pin以上でも対応可能です。

試験治具作製も承っております。お申し付けください。

ESD試験用ボード

ESD試験用ボード

測定データ例

測定データ例

事例2(CDMテスター)

・適合規格
JEITA、EIAJ、JEDEC、EOS

・事例2(CDMテスター)
最大設定可能Pin数 1024Pin
充電電圧 ±4,000V
ステップ電圧 5V
移動精度 0.1mm

試験治具作製も承っております。お申し付けください。

CDM試験用治具

CDM試験用治具

ESD・ラッチアップ試験結果ご報告までのフロー

ESD・ラッチアップ試験結果ご報告までのフロー

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