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ゲートリーク試験

半導体デバイスのゲートリークをテストするAEC-Q100に準拠した試験サービスです。

ゲートリーク

使用試験・分析装置

ゲート・リーク試験器 (モデル:6900) 適合規格:AEC-Q100-006 REV-D

ゲート・リーク試験器 (モデル:6900) 適合規格:AEC-Q100-006 REV-D

ゲート・リーク試験器 (モデル:6900) 適合規格:AEC-Q100-006 REV-D

CDMテスター(HED-C5000)

測定データ例

測定データ例

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